|
|
| Engineer
Solution |
| ¡@ |
| Test
Engineering Ability |
| ¡@ |
Test Program
Development
¡@¡@¡EHigh pin count up to 512
¡@¡@¡EHigh speed up to133MHz
¡@¡@¡EMixed mode 200MHz DAC
Test platform conversion
¡@¡@¡ETest experience
¡@¡@¡ECredence(Vista,Duo,SC), Teradyne(A5xx),
¡@¡@¡EAngilent(83K/94K),
¡@¡@¡ESchelumberger(S10/15/20/21/1650), LTX¡K
Detail failure analysis
¡@¡@¡EQuick engineering support
¡@¡@¡EFeedback in 24 Hrs
Test time optimization
¡@¡@¡EMulti DUT test : Available 4 DUT at FT, 2 DUT at CP
¡@¡@¡ESuggest to reduce test time
Yield Improvement |
| |
|
| Engineering
Service Summary |
| ¡@ |
Chipset
¡@¡@¡@LTX Trillium, CP Yield: 90%, Test Time: 0.8 sec.
¡@¡@¡@Transfer on TTT
CP Yield: 94%, Test Time: 0.6 sec.
South Bridge Chipset
¡@¡@¡@CP Yield: 85%, Test Time: 3.1 sec.
¡@¡@¡@Transfer on TTT
CP Yield: 92%, Test Time: 1.3
sec.
LCD, QTS
¡@¡@¡@FT Single DUT Test Time: 1.5 sec.
¡@¡@¡@mprove on TTT
FT Dual DUT Test Time: 1.7 sec.
CD ROM Driver
¡@¡@¡@FT Single DUT Test Time: 1.5 sec.
¡@¡@¡@Improve on TTT
FT Dual DUT Test Time: 1.7 sec.
Embed 4M Flash
¡@¡@¡@Teradyne J971,
CP Yield: 85%, Test Time: 3sec. ¡@¡@¡@Transfer
on TTT
CP Yield: 90%, Test Time: 2.8
sec.
GigaBit MAC controller embed SRAM
¡@¡@¡@Develop by TTT 2000 Dec
¡@¡@¡@FT
Yield: 98%,CP Yield :93% Test Time: 1.3 sec.
200M Hz DAC ( 16bits)
¡@¡@¡@New test program develop by TTT.
¡@¡@¡@CP
Yield: 92%, Test Time: 2.3 sec.
LCD Flip chip LCD Driver
¡@¡@¡@New test program develop by TTT
¡@¡@¡@CP
Yield : 85% Test Time: 1.7 sec.
|
 |
|
